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作者 Kuo, Way, 1951-
書名 Reliability yield, and stress burn-in : a unified approach for microelectronics systems manufacturing and software development / by Way Kuo, Wei-Ting Kary Chien and Taeho Kim
出版項 Boston : Kluwer Academic Pub., 1998
國際標準書號 0792381076
book jacket
館藏地 索書號 處理狀態 OPAC 訊息 條碼
 統計所圖書館  TK7874 K867 1998    在架上    30570000089827
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