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作者 Wilson, Robert G
書名 Secondary ion mass spectrometry : a practical handbook for depth profiling and bulk impurity analysis / R.G. Wilson, F.A. Stevie, C.W. Magee
出版項 New York : Wiley, c1989
國際標準書號 0471519456
book jacket
館藏地 索書號 處理狀態 OPAC 訊息 條碼
 物理所圖書室  QD96.S43 W746    在架上    30350000307978
說明 1 v. (various pagings) : ill. ; 26 cm
附註 "A Wiley-Interscience publication
Includes bibliographical references
主題 Secondary ion mass spectrometry
Alt Author Stevie, F. A
Magee, C. W
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